ICP測(cè)試儀和XRF測(cè)試儀哪個(gè)更適合?選ICP測(cè)試儀還是XRF測(cè)試儀?這恐怕對(duì)于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實(shí)驗(yàn)員來(lái)說(shuō)，是很容易出現(xiàn)的疑問(wèn)了。如果從購(gòu)置價(jià)格、使用成本和方便程度、分析結(jié)果可靠性等幾個(gè)方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測(cè)試儀除了被用來(lái)進(jìn)行材料表面的定性檢測(cè)，可用來(lái)測(cè)量元素的總含量嗎?準(zhǔn)確嗎?ICP測(cè)試儀檢測(cè)是僅僅對(duì)元素進(jìn)行表面定性分析嗎?它跟XRF測(cè)試儀有什么區(qū)別?針對(duì)這些疑問(wèn)，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f(shuō)?你挺誰(shuí)?XRF測(cè)試儀不但在元素定性上有ICP測(cè)試儀無(wú)可比擬的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關(guān))。所以這條上應(yīng)該是XRF測(cè)試儀和ICP測(cè)試儀都可以定量。A：XRF測(cè)試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測(cè)試儀，樣品需要進(jìn)行化學(xué)處理為溶液。對(duì)于XRF測(cè)試儀來(lái)說(shuō)，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測(cè)量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應(yīng)會(huì)比較嚴(yán)重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過(guò)形成的是一種固體溶液。而ICP測(cè)試儀毫無(wú)疑問(wèn)必須溶成溶液。B：XRF測(cè)試儀可以迅速定性，元素定性方面無(wú)人能比，像紅外在有機(jī)官能團(tuán)定性一樣迅速。定量方面，相比看來(lái)ICP測(cè)試儀定量較為簡(jiǎn)單實(shí)在，易于操作。XRF測(cè)試儀做標(biāo)樣和樣品處理需要配套的制樣設(shè)備，包括壓片機(jī)和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測(cè)試儀不能定量的結(jié)論，相對(duì)于測(cè)純金屬、合金含量分析，我認(rèn)為XRF測(cè)試儀是比ICP測(cè)試儀更合適!我們實(shí)驗(yàn)室就是把XRF測(cè)試儀+ICP測(cè)試儀配合起來(lái)用，利用XRF測(cè)試儀定性優(yōu)勢(shì)配合ICP測(cè)試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個(gè)要看你的待測(cè)組分的含量和你的測(cè)試要求了，畢竟這兩臺(tái)儀器的各有各的優(yōu)勢(shì)和缺點(diǎn)。我建議買(mǎi)一臺(tái)EDXRF測(cè)試儀就夠了，能快速無(wú)損定性半定量。你送出去測(cè)試前做一次心里有個(gè)底，找個(gè)靠譜的通過(guò)CNAS認(rèn)證的實(shí)驗(yàn)室做一下，基本問(wèn)題不會(huì)很大，真的要購(gòu)買(mǎi)儀器的話這個(gè)真心沒(méi)有底。有的公司就為了測(cè)催化劑中的氯買(mǎi)了一臺(tái)40W美元的WDXRF測(cè)試儀。D：請(qǐng)果斷選擇ICP測(cè)試儀，雖然價(jià)格和使用程度上來(lái)說(shuō)相對(duì)困難，但是結(jié)果可靠性比XRF測(cè)試儀高出光年倍。E：XRF測(cè)試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結(jié)果沒(méi)有ICP測(cè)試儀好，就算有標(biāo)樣進(jìn)行校正也存在誤差;但是ICP測(cè)試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測(cè)液體中的金屬離子含量用ICP測(cè)試儀當(dāng)然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測(cè)不出來(lái)，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會(huì)增大，這個(gè)要看你要求的測(cè)量精度了!G：都很準(zhǔn)的啊，但看具體元素了，一般XRF測(cè)試儀主要測(cè)固體粉末，ICP測(cè)試儀測(cè)能溶的固體和液體!H：XRF測(cè)試儀是檢測(cè)物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測(cè)試儀一般應(yīng)用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認(rèn)為XRF測(cè)試儀在表面化學(xué)分析方面很準(zhǔn)，但是必須購(gòu)買(mǎi)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)品，用來(lái)繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外，XRF測(cè)試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結(jié)果的準(zhǔn)確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測(cè)試儀測(cè)溶液中的PPM級(jí)的元素含量。如果保證操作得當(dāng)、曲線配置好的話，結(jié)果也會(huì)相當(dāng)準(zhǔn)。所以說(shuō)沒(méi)有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點(diǎn)，您應(yīng)該知道自己在面對(duì)ICP測(cè)試儀和XRF測(cè)試儀時(shí)該選擇哪種方法了吧!
合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）
天瑞儀器公司為合金測(cè)試專門(mén)開(kāi)發(fā)的儀器類型。
具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、合金牌號(hào)分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
性能特點(diǎn):
高效超薄窗X光管
針對(duì)合金的測(cè)試而開(kāi)發(fā)的配件
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
XRF測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：操作界面簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，快捷無(wú)損檢測(cè)，在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析采用1275eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測(cè)量的精度。進(jìn)口高端DSP數(shù)字處理芯片能夠檢測(cè)鹵族元素的含量電控全自動(dòng)機(jī)蓋升降軟件控制同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測(cè)量的部位電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的X光管的壽命外觀高貴，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾采用獨(dú)特位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。自動(dòng)譜線識(shí)別、多元素同時(shí)定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識(shí)分析樣品的組成國(guó)際ling先的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、網(wǎng)絡(luò)算法等客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，自行開(kāi)發(fā)任意多個(gè)分析方法設(shè)置了自動(dòng)安全防護(hù)開(kāi)關(guān)，以確保用戶安全使用。
XRF測(cè)試儀產(chǎn)品介紹及應(yīng)用范圍：環(huán)保是世界的潮流，不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件，世界各國(guó)都陸續(xù)了相關(guān)控制商品中有害元素含量的法規(guī)，而且對(duì)有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢(shì)。面對(duì)這市場(chǎng)需求，秉譜儀器，無(wú)微不至的精神，采用zui新技術(shù)，特別設(shè)計(jì)了520L系列的X熒光光譜儀。應(yīng)用領(lǐng)域：金屬冶金行業(yè)微量元素的分析及金屬中微量有害元素的分析環(huán)保土壤、空氣及水等介質(zhì)中痕量重金屬的分析金屬成品制造行業(yè)樹(shù)脂膜層中微量元素的分析,貴金屬行業(yè)中微量對(duì)人體有害元素微量元素的分析,稀土行業(yè)中微量元素的分析,金屬鍍層行業(yè)金屬鍍層亞納米級(jí)厚度的分析,外貿(mào)出口行業(yè)中對(duì)人體有害元素微量的分析,玩具出口行業(yè)中八大中金屬微量元素的分析.
儀器技術(shù)指標(biāo)：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測(cè)試對(duì)象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99
4、同時(shí)分析元素：幾十種元素同時(shí)分析
5、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
6、相互的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃
10、工作濕度：≤70
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測(cè)量時(shí)間 10-200S可以調(diào)
儀器配置：
1、探測(cè)模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準(zhǔn)直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動(dòng)切換
4、濾光片：內(nèi)置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡(jiǎn)單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級(jí)和軟件升級(jí)
7、指示和警告：電源指示燈，輻射警告燈
8、保護(hù)系統(tǒng)：上蓋打開(kāi)時(shí)，高壓自動(dòng)關(guān)閉
9、樣品放置：配萬(wàn)向測(cè)試支架，隨心放置各種樣品
10、報(bào)告輸出：藍(lán)牙打印
11、安全防護(hù)箱：400*300*350mm，4.5kg
應(yīng)用領(lǐng)域
主要應(yīng)用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
http://m.ownerbuilding.net
