是否進(jìn)口否
是否跨境貨源否
適用范圍固體
報(bào)價(jià)方式電話報(bào)價(jià)
加工定制
直讀光譜儀OES1000采用光電倍增管(PMT)技術(shù)和獨(dú)特光路設(shè)計(jì)使其具有優(yōu)異性能,尤其對(duì)真空紫外譜線(涉及C、P、S、B、Sn等元素)、常量和痕量含量元素的檢測(cè)有獨(dú)特優(yōu)勢(shì),是追求高性能測(cè)試用戶的。
全天候工作,具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快,單次測(cè)試過(guò)程少于40秒
軟件可對(duì)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)判定牌
儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便,對(duì)人員專(zhuān)業(yè)要求低
原廠安裝分析程序,測(cè)試數(shù)據(jù),適用合齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑,測(cè)試過(guò)程安全、環(huán)保
技術(shù)性能及參數(shù)
1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格裝置,1米焦距
根據(jù)測(cè)試需求分為真空型(真空度≤a)、空氣型兩種
恒溫控制(32℃±0.1℃)
特殊材質(zhì)鑄造,保證光室形變小
2.多安裝通道 32
3.凹面光柵
刻線密度2160gr/mm
曲率半徑998.8mm
逆線色散率0.47nm/mm
波長(zhǎng)范圍170-463nm
4.狹縫寬度
入射狹縫20μm,
出射狹縫為整體狹縫,寬度為35-75μm
5.光電倍增管
10級(jí)側(cè)窗型,熔融石英或玻璃外殼;
6.分析時(shí)間
依樣品種類(lèi)而不同,一般少于40秒
7.激發(fā)光源
高能預(yù)火花光源(HEPS),放電頻率100-900Hz,電極間距3-4mm
8.測(cè)光方式
采用光電倍增管檢測(cè)器測(cè)光,光電倍增管負(fù)高壓連續(xù)可調(diào),傳統(tǒng)的分段積分法
9.控制系統(tǒng)
采用FPGA技術(shù)控制整個(gè)儀器的工作狀態(tài)
10.尺寸和重量
尺寸:1680(長(zhǎng))×1020(寬)×1(高)mm
重量:約500kg
應(yīng)用領(lǐng)域
金屬材料元素含量測(cè)試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機(jī)械行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)控制、質(zhì)量檢驗(yàn)等相關(guān)工作的傳統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時(shí)測(cè)試幾十種元素, 測(cè)試過(guò)程便捷、環(huán)保、低成本,滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀的快速測(cè)試使研發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程和質(zhì)量更可控,幫助用戶提升產(chǎn)品的技術(shù)、質(zhì)量水平;使相關(guān)流程加快,為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術(shù)和質(zhì)量水平的標(biāo)志性設(shè)備。

光譜分析儀工作原理
光譜分析儀,是一種用于測(cè)量發(fā)光體的輻射光譜,即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器。光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過(guò)樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收,由發(fā)射光譜被減弱的程度,進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量,它符合郎珀-比爾定律A=-lgI/Io=-LgT=KCL式中I為透射光強(qiáng)度,I0為發(fā)射光強(qiáng)度,T為透射比,L為光通過(guò)原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。
光譜分析儀物理原理
任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動(dòng)的電子組成的,原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級(jí),因此,一個(gè)原子核可以具有多種能級(jí)狀態(tài)。能量的能級(jí)狀態(tài)稱(chēng)為基態(tài)能級(jí)(E0=0),其余能級(jí)稱(chēng)為激發(fā)態(tài)能級(jí),而能的激發(fā)態(tài)則稱(chēng)為激發(fā)態(tài)。正常情況下,原子處于基態(tài),核外電子在各自能量的軌道上運(yùn)動(dòng)。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子,當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級(jí)之間的能級(jí)差E時(shí),該原子將吸收這一特征波長(zhǎng)的光,外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài),而產(chǎn)生原子吸收光譜。

光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過(guò)樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收,由發(fā)射光譜被減弱的程度,進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量。
任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動(dòng)的電子組成的,原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級(jí),因此,一個(gè)原子核可以具有多種能級(jí)狀態(tài)。能量低的能級(jí)狀態(tài)稱(chēng)為基態(tài)能級(jí)(E0=0),其余能級(jí)稱(chēng)為激發(fā)態(tài)能級(jí),而能低的激發(fā)態(tài)則稱(chēng)為激發(fā)態(tài)。正常情況下,原子處于基態(tài),核外電子在各自能量低的軌道上運(yùn)動(dòng)。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子,當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級(jí)之間的能級(jí)差E時(shí),該原子將吸收這一特征波長(zhǎng)的光,外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài),而產(chǎn)生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級(jí)以后處于激發(fā)態(tài),但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的,大約經(jīng)過(guò)10^-8秒以后,激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級(jí),并將電子躍遷時(shí)所吸收的能量以光的形式釋放出去,這個(gè)過(guò)程稱(chēng)原子發(fā)射光譜??梢?jiàn)原子吸收光譜過(guò)程吸收輻射能量,而原子發(fā)射光譜過(guò)程則釋放輻射能量。
光譜分析就是從識(shí)別這些元素的特征光譜來(lái)鑒別元素的存在(定性分析),而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān),因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)定元素的含量(定量分析)。這就是發(fā)射光譜分析的基本依據(jù)。

1.光譜分析儀(輻射計(jì))系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
光譜分析儀(輻射計(jì))系統(tǒng)采用世界先進(jìn)的全息平場(chǎng)凹面衍射光柵和高性能帶電子快門(mén)控制技術(shù)的線性CCD陣列探測(cè)器組成。并采用控制雜散光技術(shù)、精密陣列探測(cè)器電子驅(qū)動(dòng)技術(shù)和寬動(dòng)態(tài)線性技術(shù),整個(gè)系統(tǒng)達(dá)到雜散低、動(dòng)態(tài)范圍寬、毫秒級(jí)的測(cè)試速度及傳統(tǒng)機(jī)械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀(輻射計(jì))系統(tǒng)組成
CMS光譜分析儀(輻射計(jì))、積分球、精密交直流電源、校準(zhǔn)定標(biāo)系統(tǒng)及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀(輻射計(jì))系統(tǒng)參考標(biāo)準(zhǔn)(LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測(cè)量部分標(biāo)準(zhǔn)):
CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84:1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀(輻射計(jì))系統(tǒng)測(cè)量參數(shù):
色品坐標(biāo)(x,y)、相關(guān)色溫、光通量、光效、能效指數(shù)(EEI)、能效等級(jí)、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標(biāo)(u,v)、色品坐標(biāo)(u`,v`)、主波長(zhǎng)、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺(jué)光通量、中間視覺(jué)光通量及電參數(shù)等參數(shù)。
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