XRF優(yōu)點、缺點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
缺點
a）難于作分析，故定量分析需要標樣。
b）對輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

合金由兩種或兩種以上的金屬或金屬與非金屬經(jīng)一定方法所合成的具有金屬特性的物質。一般通過熔合成均勻液體和凝固而得。根據(jù)組成的元素的數(shù)目，可分為二元合金，三元合金以及多元合金。
根據(jù)結構的不同，合金主要分為以下幾種類型：
(1)混合物合金（共熔混合物），當液態(tài)合金凝固時，構成合金的各組分分別結晶而成的合金，如焊錫、鉍鎘合金等；
(2)固熔體合金，當液態(tài)合金凝固時形成固溶體的合金，如金銀合金等；
(3)金屬互化物合金，各組分相互形成化合物的合金，如銅、鋅組成的黃銅（β-黃銅、γ-黃銅和ε-黃銅）等。
一般來說各類型的合金都有以下通性：
(1)多數(shù)合金熔點低于其組分中任一種組成金屬的熔點；
(2)硬度比其組分中任一金屬的硬度大；
(3)合金的導電性和導熱性低于任一組分金屬。利用合金的這一特性，可以制造高電阻和高熱阻材料。還可制造有性能的材料，如在鐵中摻入15鉻和9鎳得到一種耐腐蝕的不銹鋼，適用于化學工業(yè)。
(4)有的抗腐蝕能力強(如不銹鋼)。
由于合金具有許多優(yōu)于純金屬的特性，故在實際生產(chǎn)，生活的材料應用中大多使用合金材料。
并且為便于合金材料的使用，世界各國均根據(jù)本國的實際情況對合金材料依據(jù)其所具有的物理性能（如比重、熔點、導電性、導熱性、熱膨脹性、磁性等）、化學性能（耐用腐蝕性、抗氧化性），力學性能（機

秉承20多年X熒光光譜儀研發(fā)經(jīng)驗，天瑞儀器全新一代手持XRF礦石分析儀——探索者EXPLORER 7000再次帶來了一場分析領域的改革。EXPLORER 7000引入數(shù)字多道技術，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺式機；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用，使探礦工作更為簡單、輕松。
地礦行業(yè)應用優(yōu)勢
檢測元素：標準配置可檢測60種元素，同時可按客戶需求增加檢測元素
性：礦石版分析軟件，采用智能一鍵測試
*個性化定制工作模式
多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。
*準確界定礦山邊界
內置GPS功能，在野外可隨時搜索衛(wèi)星信號，在測試時可隨時記錄測量的經(jīng)緯度、海拔高度，確定取樣點的地理位置信息，并隨測試報告同時保存。
*獲得的坐標分析數(shù)據(jù)可繪制成礦山礦石分布圖，從而快速普查大范圍礦區(qū)，準確掌握礦脈走向，界定礦山邊界，做到優(yōu)先開采富礦區(qū)，大大提高生產(chǎn)效率。
*內置藍牙功能，配置藍牙打印機后，可實現(xiàn)重點礦區(qū)原位測試的“邊測邊打”功能。
*充分挖掘礦山價值

硬件難有大突破，已成為實驗室重要工具
儀器信息網(wǎng)：7月22日，歐盟RoHS 2.0正式實施，對中國的XRF市場產(chǎn)生了哪些影響？從貴公司近期的銷售情況看，是否已有所體現(xiàn)？
自從7.22日歐盟RoHS2.0正式實施后，對中國的制造業(yè)也有了更高的要求，需要大部份制造企業(yè)增加檢測成本，配備自已的實驗室。由于RoHS2.0與1.0的區(qū)別主要是增加了4項鄰笨物質，從分析設備上看只是在XRF的基礎上增加了GC-MS，對XRF來說，2.0與1.0檢測重金屬元素來說沒有本質性區(qū)別。從天瑞儀器近期的銷售情況來看，GC-MS在上半年增了270左右就很好的體現(xiàn)了影響。但是對XRF產(chǎn)品基本沒有影響。
儀器信息網(wǎng)：從整個行業(yè)的角度看，就目前的XRF技術，您比較看好哪些？又有哪些亟待解決的問題？XRF技術的未來發(fā)展趨勢有哪些？
從整個行業(yè)的角度來看，目前的XRF技術隨著光管和探測器的發(fā)展，性能上已經(jīng)有了很大的提高，但短時間內再有突破性提升的可能性不大。對于國內分析儀器來講，的問題還是核心部件及加工工藝，這是目前阻礙國產(chǎn)分析儀器發(fā)展的障礙。我認為 XRF技術發(fā)展趨勢主要在于應用、以及方法上的普及，在短時間內很難再有大的提高了。
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