江蘇天瑞儀器股份有限公司（以下簡稱為“天瑞儀器”）的前身是西清華研究所，由劉召貴博士于1992年創(chuàng)立，是國內(nèi)XRF廠商中代表性的一家。近日，儀器信息別采訪了天瑞儀器XRF事業(yè)部總經(jīng)理吳敏，請(qǐng)他談一談天瑞儀器的XRF技術(shù)發(fā)展歷程及未來的發(fā)展趨勢等。
超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。
性能特點(diǎn)
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
相比市場上同類廠商，天瑞儀器有著明顯的優(yōu)勢。天瑞儀器的產(chǎn)品線更全，客戶在選購分析設(shè)備時(shí)，可以找到合適的產(chǎn)品。天瑞儀器的優(yōu)勢在于其雄厚的研發(fā)實(shí)力，目前在崗的XRF研發(fā)人員達(dá)40人，可以根據(jù)客戶的需求進(jìn)行定制，對(duì)軟件和硬件的研發(fā)都可以更快更好的完成并應(yīng)用于下一代產(chǎn)品。
儀器信息網(wǎng)：這些年，XRF不斷向小型化發(fā)展，手持式/便攜式XRF產(chǎn)品逐漸增多，您如何看待XRF儀器小型化發(fā)展？貴公司有哪些手持式/便攜式XRF產(chǎn)品？其優(yōu)勢是什么？
XRF小型化發(fā)展是市場需要所致，主要原因是客戶在使用中對(duì)現(xiàn)場及原位分析的要求越來越多，快速檢驗(yàn)需求越來越明顯，所以手持式和便攜式的XRF逐漸增多。天瑞儀器于2008年開啟了對(duì)手持式和便攜式XRF的研發(fā)工作，截止目前，其手持式產(chǎn)品已經(jīng)發(fā)展到第六代EXPLORER系列，便攜式產(chǎn)品也已經(jīng)發(fā)展到第2代Cube系列。在國內(nèi)，天瑞儀器開始XRF小型化、便捷化研究相對(duì)較早，且更新?lián)Q代較快、系列產(chǎn)品非常全面。
智能三色預(yù)警系統(tǒng)：LED三色長燈帶設(shè)計(jì)，360度無死角顯示。通電開機(jī)時(shí)綠燈亮，測試紅燈閃爍，設(shè)備故障燈閃爍，儀器狀態(tài)，一目了然。
2、三重安全防護(hù)功能：
a: 自動(dòng)感應(yīng)，沒有樣品時(shí)儀器不工作，無射線泄漏。
b: 采用加厚防護(hù)測試壁，有效防止散射。
c: 配送防護(hù)安全罩，防周邊輕基體散射。
3、安全聯(lián)動(dòng)鎖裝置，當(dāng)軟件無法控制關(guān)閉，輕輕一按，時(shí)間保護(hù)您的安全，守護(hù)后關(guān)卡。
*更智能的軟件
1、EXPLORER 5000 合金分析儀配有針對(duì)合金行業(yè)的應(yīng)用軟件，具有智能化、高靈敏度、測試時(shí)間短、操作簡易等特點(diǎn)。
2、全新的智能軟件，一鍵智能操作，采用雙模設(shè)計(jì)（用戶模式和模式）。用戶模式一鍵識(shí)別樣品材質(zhì)；模式可進(jìn)行增加元素，增加特定曲線等深入分析操作。
3、內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的
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