本產品是在天瑞儀器多年XRF檢測技術和經驗基礎之上研發(fā)的一款新型高端X射線熒光光譜測試儀，采用新一代探測器及多道技術，實現(xiàn)超高計數(shù)率，1秒出結果，準確分析貴金屬含量。同時，具備二維移動平臺及高清工業(yè)攝像頭，實現(xiàn)樣品精確定位

性能特點

快,1秒鐘出結果

1、采用行業(yè)先進的極速探測器技術——（SDD）分辨率較低至125eV

優(yōu)勢：探測面積大（面積達25m㎡）、單位時間內接受信息多、計數(shù)率高分辨率好

對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低

2、采用行業(yè)先進的數(shù)字多道技術

優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率超過600KCPS

3、采用大功率X光管及先進的準直濾光系統(tǒng)

優(yōu)勢：使貴金屬的激發(fā)效率更高

4、光閘系統(tǒng)

優(yōu)勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度

精密的定位系統(tǒng)

超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點

多點測試

2D全自動移動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試

超小樣品檢測——較小可測到0.2毫米

8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇

準直器較小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測

可高效區(qū)分99.9及99.99黃金純度

可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設計

更安全：X射線聯(lián)動安全裝置----光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動

更快捷：多點測試，點哪測哪

預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試

預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現(xiàn)預約關機，關機前可設定聲光提示

技術參數(shù)

測量元素范圍：硫(S)～鈾(U)

檢出限：分析檢出限可達2ppm，較薄可測試0.005μm

元素含量分析范圍：2ppm～99.99

探測器：SDD探測器，分辨率較低可達125eV

管流：≤1000uA

管壓：5～50kV

測量時間：1s或以上(可調)

濾光片：4種濾光片自由切換

準直器：8種準直器自動切換

樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭

環(huán)境濕度：≤70

環(huán)境溫度：15℃～30℃

制冷方式：電制冷，無需任何耗材

輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器配置

SDD探測器

數(shù)字多道分析系統(tǒng)

X射線源

高低壓電源

準直器濾光片系統(tǒng)

精密移動平臺

光閘系統(tǒng)

樣品觀測系統(tǒng)

電子控制系統(tǒng)

計算機及噴墨打印機

應用領域

ROHS檢測儀

鍍層測厚

合金分析

不銹鋼分析

鹵素檢測

首飾加工廠

金銀珠寶首飾店

貴金屬冶煉廠

質量檢驗部門

分析測試中心

典當行

貴金屬回收

天瑞儀器在引進美國產的鹵素測試高效X光管，利用高信噪比的電子線路單元和鹵素測試專用X熒光分析軟件,已經成功研制出新款分析儀器EDX1800B(H)。專用配件是針對鹵族元素(特別是氯元素)的測試而開發(fā)。經過多次實驗無鹵分析所得數(shù)據分析，無鹵分析的結果十分接近標準值，)可廣泛應用于各種類型的無鹵測試。

儀器詳情

型號：EDX 1800B

儀器介紹

X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性； 利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。

性能特點

專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。

內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。

針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。

電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

元素含量分析范圍：1ppm—99.99

同時分析元素：24種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量較薄至0.005微米，可分析5層以上的鍍層

分析精度：0.05

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

測量時間：60s—200s

能量分辨率為：（150±5）eV

管壓：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

標準配置

電制冷UHRD探測器

信噪比增強器

光路增強系統(tǒng)

內置高清晰攝像頭

可自動切換型準直器和濾光片

精準的升降平臺

加強的金屬元素感度分析器

應用領域

ROHS檢測和鍍層測厚

鋼鐵和有色金屬檢測

水泥檢測

礦料分析